CCC認(rèn)證對LTE無線網(wǎng)卡的電磁兼容測試要求

 LTE無線網(wǎng)卡的電磁兼容測試依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為YD/T 2583.14-2013《蜂窩式移動(dòng)通信設(shè)備電磁兼容性要求和測量方法》該標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定LTE無線網(wǎng)卡不僅需要進(jìn)行電磁騷擾測試，抗擾度測試。

1.輻射雜散騷擾測試 輻射雜散騷擾測試應(yīng)在全電波暗室中進(jìn)行，全電波暗室的場地性能指標(biāo)必須符合GB/T6113.104中的要求。測試時(shí)所使用的測量接收機(jī)應(yīng)具有有效值檢波方式。

輻射雜散騷擾限值如下：

    在測試前，受試設(shè)備LTE無線網(wǎng)卡需與其輔助設(shè)備相連接。將受試設(shè)備與輔助設(shè)備放置在非說導(dǎo)電材料測試臺(tái)上，受試設(shè)備與接收天線的距離不小于3m,受試設(shè)備需在業(yè)務(wù)模式和空閑模式應(yīng)分別進(jìn)行測試。在測試時(shí)，先將接收天線高度調(diào)整為受試設(shè)備物理中心高度，然后在每一個(gè)測試頻率，轉(zhuǎn)臺(tái)0度到360度之間進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，以尋找該頻率最大的有效功率值。為了尋找最大的有效功率值，應(yīng)將天線依次改變?yōu)樗交虼怪睒O化方式對受試設(shè)備分別進(jìn)行測試，應(yīng)使用有效值檢波器對受試設(shè)備進(jìn)行測試。

2.輻射連續(xù)騷擾測試 建議在半電波暗室中進(jìn)行，在測試前，受試設(shè)備需與其輔助設(shè)備相連接，如筆記本電腦。將受試設(shè)備與輔助設(shè)備放置在半電波暗室轉(zhuǎn)臺(tái)中心的非導(dǎo)電材料測試臺(tái)上，測試臺(tái)高度應(yīng)為80cm。測試時(shí)，在每一個(gè)測試頻率，應(yīng)在半電波暗室接地平板上方1m至4m的范圍內(nèi)調(diào)整天線的高度。應(yīng)在0度至360度之前旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)，以尋找該頻率最大的場強(qiáng)讀數(shù)。在測試過程中，為了尋找最大的場強(qiáng)讀數(shù)，應(yīng)將天線依次改變?yōu)樗交蛘叽怪睒O化方式對受試設(shè)備分別進(jìn)行測試。在30MHz至1GHz頻率范圍內(nèi)，用帶有準(zhǔn)峰值檢波器的測試接收機(jī)進(jìn)行測量。

    3.靜電放電抗擾度測試 靜電放電抗擾度測試建議在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行。靜電放電發(fā)生器必須滿足GB/T 17626.2的要求，并且應(yīng)按照GB/T 17626.2的要求對靜電放電發(fā)生器的特性進(jìn)行檢驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)室的地面應(yīng)設(shè)置接地參考平面，他應(yīng)是一種最小厚度為0.25mm的銅或者鋁的金屬薄板，其他金屬材料雖可使用但他們至少有0.65mm的厚度。接地參考平面的最小尺寸為1

m2,實(shí)際的尺寸取決于受試設(shè)備的尺寸，而且每邊至少應(yīng)深處的受試設(shè)備或耦合板之外0.5m,并將它與保護(hù)接地系統(tǒng)相連接。在受試設(shè)備中心點(diǎn)前面的0.1m處水平耦合板邊緣，至少施加10次的單次放電。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)等級

    4.輻射騷擾抗擾度測試

輻射賽擾度抗擾度測試建議在電波暗室中進(jìn)行，電波暗室應(yīng)按照GB/T 17626.2的要求進(jìn)行校準(zhǔn)，在測試前，受試設(shè)備需與其輔助設(shè)備相連接，將受試設(shè)備與輔助設(shè)備放置在高度為0.8m的非導(dǎo)電材料測試臺(tái)上，受試設(shè)備在業(yè)務(wù)模式和空閑模式應(yīng)分別進(jìn)行測試。

     CCC認(rèn)證中對LTE無線網(wǎng)卡的電磁兼容測試要求是合理且全面的。在CCC認(rèn)證的電磁兼容測試中，LTE無線網(wǎng)卡不僅需要進(jìn)行電磁騷擾測試，還需要進(jìn)行抗擾度測試。通過這些測試能充分檢查LTE無線網(wǎng)卡的電磁兼容性的優(yōu)劣，從源頭有效的遏制劣質(zhì)產(chǎn)品流入市場，維護(hù)了廣大消費(fèi)者的合法權(quán)益。

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